Object telecentric design
Magnification from 1.5X to 4X,adjustable aperature,resolution up to 240lp/mm
Non-coaxial and coaxial types
Support to 29 megapixels industrial lens
High resolution semiconductor display board inspection
| Model | Optical Size | Sensor Length(mm) | Sensor Width(mm) | Diagonal(mm) | FOV Length(mm) | FOV Width(mm) | Lens Length(mm) | Max Diameter(mm) | Preview ( pdf ) |
Details |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| XF-MDT1.5X110-D35-VI 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 24 | 16 | 241.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT1.5X110D-D35-VI-V5.1 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 24 | 16 | 241.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT2X110-D35-VI 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 18 | 12 | 252.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT2X110D-D35-VI-V5.1 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 18 | 12 | 252.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT3X110-D35-VI 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 12 | 8 | 279.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT3X110D-D35-VI-V5.1 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 12 | 8 | 279.3 | 56 | Explore | |
| XF-MDT4X110-D35-VI 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 9 | 6 | 319.9 | 56 | Explore | |
| XF-MDT4X110D-D35-VI-V5.1 采用物方远心，专为大靶面设计 ，大幅提升测量精度 | 35mm Full | 36 | 24 | 43.3 | 9 | 6 | 319.9 | 56 | Explore |
| Model | Optical Size | Sensor Length(mm) | Sensor Width(mm) | Diagonal(mm) | FOV Length(mm) | FOV Width(mm) | Lens Length(mm) | Max Diameter(mm) | Preview ( pdf ) |
Details |
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